FEI掃描電鏡產(chǎn)品系列
電鏡型號：Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600i。
1、FEI Helios400/450：以其超高分辨率和出色的成像能力著稱。無論是納米級別的材料結構分析，還是微觀形貌的精細表征，都能提供清晰、準確且極具細節(jié)的圖像信息。在半導體芯片研發(fā)、材料科學研究等領域，它能夠助力科研人員深入探究微觀世界的奧秘，為技術創(chuàng)新提供有力的數(shù)據(jù)支持。
2、FEI Strata400：具備穩(wěn)定可靠的性能表現(xiàn)。在對各類樣品進行檢測時，可高效地獲取微觀結構信息，其精準的分析功能對于地質研究中礦物的微觀特征分析、生物醫(yī)學領域細胞組織的微觀結構研究等有著重要意義，能夠幫助專業(yè)人員快速定位關鍵信息，推動相關領域研究的進展。
3、Quanta600F：擁有強大的適應性和多功能性。可以對不同形態(tài)、不同材質的樣品進行掃描分析，無論是金屬、陶瓷、聚合物等固體材料，還是液體、粉末等特殊樣品，都能輕松應對，為材料工程等多行業(yè)的質量控制、新產(chǎn)品研發(fā)等環(huán)節(jié)提供全面且深入的微觀檢測服務。
4、FEI FIB200：專注于聚焦離子束技術應用。在微納加工、樣品制備等方面展現(xiàn)出獨特的優(yōu)勢。通過精確的離子束刻蝕與沉積功能，能夠在微觀尺度上對樣品進行精細加工與改性，為納米制造、電子器件研發(fā)等前沿領域提供了不可或缺的技術手段，助力科研人員突破微觀工藝的瓶頸。電話：13061829149 朱先生
1、FEI Helios400/450：以其超高分辨率和出色的成像能力著稱。無論是納米級別的材料結構分析，還是微觀形貌的精細表征，都能提供清晰、準確且極具細節(jié)的圖像信息。在半導體芯片研發(fā)、材料科學研究等領域，它能夠助力科研人員深入探究微觀世界的奧秘，為技術創(chuàng)新提供有力的數(shù)據(jù)支持。
2、FEI Strata400：具備穩(wěn)定可靠的性能表現(xiàn)。在對各類樣品進行檢測時，可高效地獲取微觀結構信息，其精準的分析功能對于地質研究中礦物的微觀特征分析、生物醫(yī)學領域細胞組織的微觀結構研究等有著重要意義，能夠幫助專業(yè)人員快速定位關鍵信息，推動相關領域研究的進展。
3、Quanta600F：擁有強大的適應性和多功能性。可以對不同形態(tài)、不同材質的樣品進行掃描分析，無論是金屬、陶瓷、聚合物等固體材料，還是液體、粉末等特殊樣品，都能輕松應對，為材料工程等多行業(yè)的質量控制、新產(chǎn)品研發(fā)等環(huán)節(jié)提供全面且深入的微觀檢測服務。
4、FEI FIB200：專注于聚焦離子束技術應用。在微納加工、樣品制備等方面展現(xiàn)出獨特的優(yōu)勢。通過精確的離子束刻蝕與沉積功能，能夠在微觀尺度上對樣品進行精細加工與改性，為納米制造、電子器件研發(fā)等前沿領域提供了不可或缺的技術手段，助力科研人員突破微觀工藝的瓶頸。電話：13061829149 朱先生
